18981947117
產(chǎn)品中心
當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 實驗室/便攜式離子濃度計 > 比色法離子濃度計 > HI705微電腦二氧化硅（LR）濃度測定儀
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-11-19訪 問 量：1641產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細介紹
| 品牌 | HANNA/意大利哈納 |
|---|
HI705微電腦二氧化硅（LR）濃度測定儀產(chǎn)品簡介：
HI705微電腦二氧化硅（LR）濃度測定儀是用于現(xiàn)場二氧化硅的快速分析儀器，具有校零、檢查和測量過程一鍵完成功能。*CHECKTM性能核查功能，使用NIST二氧化硅標準核查組定期對儀器進行檢查。適用于實驗室和現(xiàn)場快速樣品分析測量。
HI705微電腦二氧化硅（LR）濃度測定儀主要特點：
1、優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，人性化確認操作，保證儀器的良好校準
2、易讀LCD顯示屏，人性化顯示界面，操作簡單、快捷
3、倒計時功能，試劑與樣品反應(yīng)時間*性，確保測量度
4、操作簡單，出廠前內(nèi)置標準曲線標定，確保儀器性能*
5、高精度測量結(jié)果，光源防塵測量系統(tǒng)，自動關(guān)機節(jié)電模式
6、優(yōu)良防水性能，適用于實驗室和現(xiàn)場快速樣品分析測量
HI705微電腦二氧化硅（LR）濃度測定儀技術(shù)參數(shù)：
測量范圍 | 0.00 to 2.00 mg/ L（ppm）SiO2 |
解析度 | 0.01 mg/L（ppm） |
測量精度 | 讀數(shù)±5% ± 0.03 mg/L @ 25°C |
測量方法 | 參照ASTM D859標準雜多藍方法 |
光學(xué)系統(tǒng) | 定制接收器暨光源系統(tǒng) |
電源模式 | 1×1.5V 電池，在測量模式下，10分鐘不用后自動關(guān)機 |
使用環(huán)境 | 0 to 50°C（32 to 122°F），RH max 95%，無冷凝 |
尺寸重量 | 主機尺寸：81.5×61×37.5 mm；主機重量：64g |
標準配置 | |
HI705 | 主機，HI705-25 二氧化硅試劑，HI731313H 定制玻璃比色皿（2個），HI731318 玻璃比色皿清潔布（2塊），中英文使用說明書，HI721025 定制攜帶盒 |
HI705C | 主機，HI705-25 二氧化硅試劑，HI705-11NIST二氧化硅標準核查組，HI731313H 定制玻璃比色皿（2個），HI731318 玻璃比色皿清潔布（2塊），中英文使用說明書，HI721025 定制攜帶盒 |
選購配件 | |
HI705-25 | 定制二氧化硅（LR）試劑 |
HI705-11 | NIST二氧化硅（LR）核查標準組 |
HI731313H | 定制玻璃比色皿杯蓋套裝 |
HI93703-58 | 定制玻璃比色皿修復(fù)潤滑液 |
HI93703-50 | 定制玻璃比色皿清洗液 |
HI731318 | 定制玻璃比色皿清潔布 |
HI740142 | 定制（1mL）取樣器 |
HI740157 | 定制微量（3.5mL）塑料吸管 |
HI740028 | （5#）電池 |
注：1、二氧化硅在溶解礦物質(zhì)的天然水體中存在。但在工業(yè)應(yīng)用中卻不希望有二氧化硅的存在，因為二氧化硅會引起結(jié)垢現(xiàn)象。特別是高壓管道中更易受二氧化硅的影響。加熱系統(tǒng)和反滲透工廠也有必要監(jiān)測二氧化硅。
2、儀器在使用一段時間后，儀器光學(xué)系統(tǒng)將會衰減，造成內(nèi)部設(shè)置的標準曲線會出現(xiàn)漂移，影響測量數(shù)據(jù)可靠性和準確性。有CHECKTM性能核查功能，使用NIST二氧化硅標準核查組定期（頻繁使用，1-3個月標準核查一次，常規(guī)情況下，半年標準核查一次）對儀器進行檢查，測量值在NIST標準值范圍內(nèi)，儀器光學(xué)系統(tǒng)為*，如果偏離標準值范圍較大，應(yīng)該及時送檢。
3、用NIST二氧化硅標準核查組，保存和使用應(yīng)在18 to 25°C（64.5 to 77°F）溫度范圍內(nèi)，非Hanna 品牌二氧化硅標準核查組，并不能確保其標準值真實性。
產(chǎn)品咨詢
微信咨詢